非破坏性测试
只消耗少量甚至单次PEcycle,测试完毕可当做 新颗粒继续使用
高精确度
全block测试覆盖,建立对应型号和批次颗粒的 寿命预测模型
可自动化测试
上位机实现自动运算输出等级结果,可配合自 动化设备实现自动分拣
快速筛选分类
基于芯片特性分析有效page抽样和pattern选 择,可以提高测试速度