非破坏性测试

只消耗少量甚至单次PEcycle,测试完毕可当做 新颗粒继续使用

高精确度

全block测试覆盖,建立对应型号和批次颗粒的 寿命预测模型

可自动化测试

上位机实现自动运算输出等级结果,可配合自 动化设备实现自动分拣

快速筛选分类

基于芯片特性分析有效page抽样和pattern选 择,可以提高测试速度